膜厚仪(台阶仪)

产品介绍

型号及主要参数

厂家:Bruker(德国)

型号:DektakXT

主要参数:

最大扫描长度≥55mm

测试所允许的最大样品厚度≥50mm

垂直方向的扫描范围≥1000μm

测试高度方向的重复性≤0.4nm(1μm的标准台阶)

测试垂直分辨率≤0.1nm

 

用途及功能

主要用于薄膜材料厚度测量。可获得精确定量的台阶高度,线粗糙度,薄膜曲率半径,应力测试,表面3D形貌等测试功能。

 

联系人: 殷老师

电话: 0512-62316061

邮箱: yiny@jitriioo.com

  • 产品名称:膜厚仪(台阶仪)
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