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型号及主要参数

厂家:FEI(美国)

型号:FEI-Scios 2 Hivac

主要参数:

离子束分辨小于3nm@30KV

电子束分辨率:workspace<1nm@15KVworkspace<1.6nm@15KV

样品XY方向移动范围不低于110nmZ方向不低于60 nm,可绕Z轴旋转任(360°

意角度倾斜角度T范围不小于-1590°


用途及功能:

扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

聚焦离子束用于样品微纳米尺度下的切割、表面修饰、TEM制样

刻蚀能谱仪主要用于样品元素分析


特点:

离子束与电子束双束,实现聚焦离子束FIB切割与SEM形貌同步观察



型号及主要参数

厂家:ZEISS(德国)

型号:GEMINI 300

主要参数:

分辨率:0.7 nm@15 KV1.2nm @15 KV

放大倍率:12x-2000000x

加速电压:0.2-30kV

五轴样品台:130 mm (X方向), 130 mm (Y方向), 50 mm (Z方向),-4°-70° (倾斜),360° (旋转)


用途及功能:

扫描电镜主要用于观察、分析、记录样品的微观形貌,

能谱仪主要用于样品元素分析


特点:

高分辨表面形貌成像







型号及主要参数

厂家:thermofisher(美国)

型号:ESCALAB Xi+

主要参数:

XPS能量分辨率≤0.43 eV

灵敏度: 大面积XPS,  Ag3d5/2(FWHM≤1.0 eV)强度大于106CPS

角分辨ARXPS分析

紫外光电子能谱(UPS)


用途及功能:

用于粉末、薄膜、块状等各种有机无机材料的表面几个原子层(1-10 nm)的化学组成、价态的深度剖析、成像分析及功函数分析与表征。


特点:

高分辨XPS,UPS






型号及主要参数

厂家:Bruker(德国)

型号:D8 ADVANCE

主要参数:

X射线光管:Cu靶陶瓷X光管,功率2.2 KW

扫描方式:立式θ/θ测角仪

转动范围:-10°-168°,最小步长:0.0001°

能量色散阵列探测器


用途及功能:

物相定性定量分析

微光结构分析(微晶尺寸、微观应力)

粉末数据结构与结构精修

小角度X射线散射


特点:

整列探测器,可测试小角度XRD

型号及主要参数

厂家:Bruker(德国)

型号:Dimension ICON

主要参数:

XY方向扫描范围90μm x 90μm,

垂直方向扫描范围10μm,

样品尺寸可达直径210mm,厚度15mm


用途及功能:

表面形貌、粗糙度、相图测试

力曲线等力学性质测试

电学性质如静电力显微镜(EFM)、开尔文探针力显微镜(KPFM)、压电力显微镜(PFM)、导电原子力显微镜测试(C-AFM)


特点:

高分辨形貌成像、电学性能测试模块如EFM、PFM、KPFM、C-AFM


 




型号及主要参数
厂家:Bruker(德国)
型号:AVANCE NEO 400MHz
主要参数:
射频频率范围:6-440MHz,频率分辨率≤0.005Hz
灵敏度:1H≥500:1,13C≥220:1,15N≥25:1,31P≥150:1,19F≥500:1
可测C13DEPT,二维谱Cosy、Noesy、HMBC、HSQC

用途及功能:
主要应用于有机化合物分析与性能研究

特点:
Bruker全新谱仪,快速出核磁结果
  

型号及主要参数
厂家:Renishaw(英国)
型号:InVia Spectrometer
主要参数:
532 nm、785 nm波长激光器,激光光斑小于0.8 μm
拉曼频移范围:532 nm包含50cm-1-9000cm-1,785nm包含50 cm-1-4000 cm-1
灵敏度:不低于30:1,能观察到硅的三阶峰及四阶峰
光谱重复性:优于±0.02cm-1,可实现mapping功能

用途及功能:
主要应用于各种物质的分子组成、结构及相对含量分析,实现对物质的鉴别和定性研究

特点:
532 nm,785 nm双波长激光器,拉曼Mapping成像


联系方式:

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